







M10127 3D全自動正置金相顯微鏡

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M10127科研級3D全自動超景深正置金相顯微鏡
關鍵字:3D全自動超景深正置金相顯微鏡,金相顯微鏡,景深融合,超景深顯微鏡,全電動XYZ工作臺,多分光比觀察頭,3D圖像拼接
全自動工業(yè)顯微鏡,光學顯微鏡,全景拼接微分干涉,自動照明、對焦,自動轉塔,高速圖像拼接,高速相機,自動照明,偏光觀測,電動平臺
全新的 M10127系列研究級金相顯微鏡升級為全電動XYZ工作臺機型,配合功能軟件,從外觀到性能都緊跟設計風向, 致力于拓展工業(yè)領域全新格局。配合高質量半復消Semi-APO光學系統(tǒng),和透反射照明裝置,實現(xiàn)明場+暗場+偏光+DIC微分干涉相襯全功能觀察方式,XYZ電動平臺和軟件提供全自動軟件功能,融2D/3D高速成像,景深融合,自動對焦等功能于一身,將是您工作中得力的助手!
XY電動控制
通過軟件控制電動平臺XY方向移動,三種控制方式,既可以手動直接拖動窗口移動平臺,也可以雙擊圖像,指哪去哪一鍵直達
多分光比觀察頭
偏光系統(tǒng)
偏光片和檢偏器有助于消除半導體和PCB檢測中的雜散光, 可獲得清晰細節(jié)的圖像。有固定分析儀和可旋轉分析儀可供選擇??墒褂?360°可旋轉分析儀以不同的偏振角度觀察樣品。此外, 安裝新開發(fā)的 DIC 附件后,該偏振系統(tǒng)可以升級為 Nomarski 微分干涉對比系統(tǒng)。
Nomarski 微分干涉對比度 (DIC)
表面上無法在明場中發(fā)現(xiàn)的微細凹凸, 可以通過使用 U-DICR 附件來檢測, 以創(chuàng)建高對比度背景。適用于LCD的導電粒子、精密磁盤的表面劃痕檢測
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¥7500.00/件
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